- Autor(in)
- Referenz
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J. chem. Physics 18, 913 (1950).
p353_1) H. Fröhlich, Theory of Dielectrics, Oxford Univ. Press. 1949.
p353_10) M. R. Freymann u. Mitarbeiter, J. Physique Radium 17, 806 (1956).
p353_2) J. Meinnel, J. Physique Radium 15, 124 (1954).
p353_3) M. R. Freymann, Cah. Phys. 67, 19 (1956), dort weitere Literaturangaben.
p353_4) M. R. Rohmer, M. Freymann u. M. R. Freymann, L'Onde Electr. 35, 465, (1955).
p353_5) J. Meinnel, L'Onde Electr. 35, 468 (1955).
p353_6) M. R. Freymann, Physica 20, 1115 (1954).
p353_7) M. L. Blanchard u. M. Martin, J. Physique Radium 19, 677, (1958).
p353_8) M. R. Freymann, Hableiter und Phosphore, (1958) S. 554 - 557.
p353_9) J. Meinnel, E. Daniel u. Y. Colin, J. Physique Radium 17, 79 (1956).
p357_11) H. Schweickert, Verh. dtsch. physik. Ges. 3, 99 (1939).
p358_12) E. E. Hahn, J. appl. Phys. 22, 855. (1951).
p358_13) R. G. Breckenridge, J. chem. Physics 16, 959 (1948);
Vorträge des Int. Kolloquims 1956 Garmisch-Partenkirchen.
- Seitenbereich
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0352 - 0359
- Zusammenfsg.
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Es werden die dielektrischen Eigenschaften von polykristallinem Selen, sowie von Germanium- und Siliziumeinkristallen in einem Meßkondensator zwischen 100 kHz und 400 kHz in Abhängigkeit von der Temperatur gemessen. Die von M. R. Freymann und Mitarbeitern an Selen und anderen elektronischen Halbleitern bei bestimmten Temperaturen und Frequenzen beobachteten Maxima des Verlustwinkels werden an Selen und Silizium ebenfalls festgestellt. Es wird aber gezeigt, daß diese Maxima keine Volumeneigenschaften der Halbleiter sind, sondern durch Kontakte an der Oberfläche des Halbleiters bedingt sind.
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- Forschungsartikel