Auszug aus der Dissertation, Technische Universität Dresden 1964.
- Autor(in)
- Referenz
-
10 Glaser, W., Z. Physik 121 (1943) 647.
1 Recknagel, A., Z. Physik 117 (1941) 689.
2 Gaydou, F., Dissertation TH Zürich 1961.
3 Bertein, F., J. Phys. Radium 14 (1953) 235.
4 Recknagel, A., J. AEG-Forschung 9 (1942)
5 Recknagel, A., Z. Physik 120 (1943) 331.
6 Soa, E.-A., Optik 22 (1965) 66.
7 Whittaker, E. T., and G. N. Watson, A Course of Modern Analysis, Fourth Edition, Cambridge 1952.
8 Glaser, W., u. P. Schiske, Ann. Physik 447 (1953) 267.
9 Glaser, W., Grundlagen der Elektronenoptik, Wien 1952.
- Seitenbereich
-
0272 - 0291
- Zusammenfsg.
-
Unter Berücksichtigung der sphärischen Aberration dritter Ordnung wird eine wellenmechanische Formel für die Auflösungsgrenze des Emissions-Elektronenmikroskops hergeleitet, die für Austrittsenergien der Elektronen kleiner als 2 eV und elektrische Feldstärken am Objekt größer als 2 · 10<sup>6</sup> V/m bewiesen wird. Für das verwendete Modell (homogenes Feld vor dem Objekt, Punktquelle, einheitliche Austrittsenergie) wird der Einfluß der sphärischen Aberration dritter Ordnung und einer Aperturblende auf die Auflösungsgrenze diskutiert.
- Artikel-Typen
- Forschungsartikel